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          Institute: MPI für Intelligente Systeme (ehemals Max-Planck-Institut für Metallforschung)     Collection: Ehemalige Abt. Arzt (Micro/nanomechanics of Thin Films and Biological Systems)     Display Documents



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ID: 12566.0, MPI für Intelligente Systeme (ehemals Max-Planck-Institut für Metallforschung) / Ehemalige Abt. Arzt (Micro/nanomechanics of Thin Films and Biological Systems)
Schädigungsverhalten von Kupfer-Leiterbahnen unter Wechselstrombelastung
Authors:Orso, S.
Language:English
Date of Approval (YYYY-MM-DD):2002-06
Type of Thesis (e.g.Diploma):diplom
Name of University:Universität Stuttgart
Place of University:Stuttgart
Physical Description 
(e.g. Total Number of Pages):
79 p.
Free Keywords:Dipl-01-ar_2002;
Document Type:Thesis
Affiliations:MPI für Intelligente Systeme/Ehemalige Abt. Arzt
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