Please note that eDoc will be permanently shut down in the first quarter of 2021!      Home News About Us Contact Contributors Disclaimer Privacy Policy Help FAQ

Home
Search
Quick Search
Advanced
Fulltext
Browse
Collections
Persons
My eDoc
Session History
Login
Name:
Password:
Documentation
Help
Support Wiki
Direct access to
document ID:


          Institute: MPI für Dynamik komplexer technischer Systeme     Collection: Physical and Chemical Process Engineering     Display Documents



  history
ID: 207889.0, MPI für Dynamik komplexer technischer Systeme / Physical and Chemical Process Engineering
Evaluation of operational process parameters for nanoparticle precipitation in microemulsions using a Monte-Carlo Simulation approach
Authors:Voigt, A.; Adityawarman, D.; Sundmacher, K.
Language:English
Date of Publication (YYYY-MM-DD):2004
Title of Proceedings:2004 AIChE Annual Meeting : Conference Proceedings
Sequence Number:430g
Physical Description:CD-ROM
Name of Conference/Meeting:AIChE 2004 Annual Meeting
Place of Conference/Meeting:Austin, Texas, USA
(Start) Date of Conference/Meeting
 (YYYY-MM-DD):
2004-11-07
End Date of Conference/Meeting 
 (YYYY-MM-DD):
2004-11-12
Review Status:not specified
Audience:Experts Only
Intended Educational Use:No
Abstract / Description:Eine Übersicht zu Nanopartikeln: Einsatz und Erzeugung.
Die Grundlagen von Mikroemulsionen: Herstellung und Charakterisierung.
Das Phasendiagramm der Mikroemulsion: Simulationen.
Die Nano-Partikelerzeugung: Simulationsmöglichkeiten.
Möglichkeiten der modellgestützen Prozessgestaltung.
Ein Ausblick: Modellbasierte Regelung
External Publication Status:published
Document Type:Conference-Paper
Communicated by:Kai Sundmacher
Affiliations:MPI für Dynamik komplexer technischer Systeme/Physical and Chemical Process Engineering
Identifiers:URL:http://www.aiche.org/conferences/techprogram/brows...
LOCALID:986
The scope and number of records on eDoc is subject to the collection policies defined by each institute - see "info" button in the collection browse view.